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测试仪器的优化及量测

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测试仪器的优化及量测

发布日期:2019-10-26 作者:xia 点击:

测试仪器的优化及量测

 当同时使用多个仪器时,对待测器件的源和测量时序进行协调非常重要。因此,利用可用的软件方案、以简化和/或避免昂贵的编程,是非常有利的。


利用商家提供的免费启动软件验证测试系统配置和功能。2600A与2650A系列源测量单元(SMU)提供一款TSP® Express软件,这是通过仪器web界面使用的免费软件。当使用TSP-Link接口创建仪器网络时,可以利用TSP Express软件来控制网络中的所有仪器。图1给出3个源测量单元(SMU)之间的通信设置图实例。利用TSP Express软件,用户可以轻松地对一个或多个源测量单元(SMU)设置直流和脉冲扫描,同时,为其他源测量单元(SMU)分配输出静态偏置电压,或者对每个扫描的偏置电压阶跃变化进行编程。内置的简化绘图软件,允许用户迅速对测量结果进行绘图,并对所有布线、连接以及参数是否正确配置进行评估。



图1 TSP-Link技术提供无主机系统扩展,并支持仪器之间的通信、定时以及严格的通道同步。


TSP Express软件还可以访问2651A与2657A型大功率源测量单元(SMU)快速模数转换器(ADC)能力。利用TSP Express软件,可以从2651A型源测量单元(SMU)输出一个脉冲通过测试系统,并获得响应。利用这些结果可以设置所需的源和测量延迟,确保脉冲负峰期间的数据采集。


利用参数测试软件还可以简化分立半导体器件测试。这类软件包括测试数据库(含预先确定的测试),可以简化各种器件的数据采集。如果采用多个源测量单元(SMU)系统对于半导体器件进行测试,并使用手动探测器或测试夹具接触器件,那么推荐使用吉时利ACS基础版软件。如果利用半自动或自动探测器接触器件


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相关标签:ATE测试,FCT测试,EOL测试

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